
PRODUCT CLASSIFICATION
產(chǎn)品分類產(chǎn)品展示/ Product display
日本otsuka大塚多樣品納米粒子徑測試儀 nanoSAQLA是一種通過動態(tài)光散射法(DLS法)測量粒徑(粒徑范圍0.6nm~10um)的設(shè)備。 支持從稀薄到濃厚系廣泛濃度范圍內(nèi)的多檢體測定的新光學系統(tǒng),實現(xiàn)實驗室必需的輕量、小型化、標準1分鐘的高速測定。 非浸泡型、不受接觸器影響、無需自動取樣器、標準配備“5檢體連續(xù)測量”的新產(chǎn)品。
2025-10-13
經(jīng)銷商
56
otsuka大塚電池材料研發(fā)ZETA電位粒徑測試儀 非常適用于界面化學、無機物質(zhì)、半導體、聚合物、生物學、制藥和醫(yī)學領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和應用研究,不僅涉及微小顆粒,還涉及薄膜和平板表面的科學研究。
2025-10-13
經(jīng)銷商
57
otsuka大塚半導體漿料ZETA電位徑粒測試儀 非常適用于界面化學、無機物質(zhì)、半導體、聚合物、生物學、制藥和醫(yī)學領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和應用研究,不僅涉及微小顆粒,還涉及薄膜和平板表面的科學研究。
2025-10-13
經(jīng)銷商
42
日本otsuka大塚新ZETA電位計兼納米粒度儀 可根據(jù)用途增加功能(分子量測定、粒子濃度測定、微流變測定、凝膠網(wǎng)眼結(jié)構(gòu)分析、粒徑多角度測定) ● 可以用標準流動池連續(xù)測量粒徑和zeta電位 ● 可以測量從稀薄到濃厚溶液(~40% )的廣泛濃度范圍的粒徑zeta電位 ● 可以在高鹽濃度下測定平板狀樣品的zeta電位 ● 可在0~90℃的廣闊溫度范圍內(nèi)進行測量
2025-10-13
經(jīng)銷商
38
日本miclab電流電壓特性測定燃料耐久測試儀 氣體供應加濕從加熱到電氣特性評價,通過專用系統(tǒng)軟件進行集中管理、自動測試。
2025-05-09
經(jīng)銷商
721
日本進口miclab燃料電池發(fā)電測試儀評估設(shè)備 氣體供應加濕從加熱到電氣特性評價,通過專用系統(tǒng)軟件進行集中管理、自動測試。
2025-05-09
經(jīng)銷商
807
日本seikou-giken厚度深度測量傳感器工業(yè)用 WLI2000系列 厚度測量傳感器WLI2000系列 該傳感器的特點是利用光干涉非接觸式測量工件的厚度。 它是應用醫(yī)院眼底檢查中使用的 OCT 檢查技術(shù)而開發(fā)的工業(yè)測量傳感器。
2025-05-09
經(jīng)銷商
835
日本seikou-giken光干涉非接觸式測量厚度儀 WLI2000系列 厚度測量傳感器WLI2000系列 該傳感器的特點是利用光干涉非接觸式測量工件的厚度。 它是應用醫(yī)院眼底檢查中使用的 OCT 檢查技術(shù)而開發(fā)的工業(yè)測量傳感器。
2025-05-09
經(jīng)銷商
780
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