高重復(fù)性非接觸離線分光干涉式測(cè)厚儀
高重復(fù)性非接觸離線分光干涉式測(cè)厚儀

產(chǎn)品特點(diǎn)

• 高精度測(cè)量：實(shí)現(xiàn)高重復(fù)性測(cè)量，精度可達(dá)±0.01微米以下（取決于被測(cè)物和測(cè)量條件）。
• 溫度穩(wěn)定性：受溫度變化影響小，適合在不同環(huán)境條件下使用。
• 非接觸式測(cè)量：采用分光干涉式原理，無(wú)需接觸被測(cè)物，減少對(duì)被測(cè)物的損傷。
• 反射型測(cè)量：可以從薄膜的一側(cè)進(jìn)行測(cè)量，適合測(cè)量透明涂層膜層的厚度（取決于測(cè)量條件）。
• 適用范圍廣：適用于研究、檢查用的離線類型以及生產(chǎn)過程中使用的在線類型。

技術(shù)規(guī)格

• 測(cè)量厚度范圍：
• 薄物用：1～50微米
• 厚物用：10～150微米
• 測(cè)量長(zhǎng)度范圍：50～5000毫米
• 測(cè)量間距：1毫米及以上
• 最小顯示值：0.001微米
• 電源電壓：AC100V，50/60Hz
• 使用溫度范圍：5～45℃（測(cè)量時(shí)溫度變化1℃以內(nèi)）
• 濕度范圍：35～80%（無(wú)冷凝）
• 測(cè)量面積：φ0.6毫米
• 測(cè)量間隙：約30毫米

適用場(chǎng)景

• 電子和光學(xué)領(lǐng)域：適用于測(cè)量電子和光學(xué)用透明平滑薄膜、多層薄膜等。
• 研發(fā)和質(zhì)量控制：可用于研究和開發(fā)過程中的厚度測(cè)量，以及生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制。