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日本NCC清潔潔凈檢查燈光照均勻檢測異物 ZEUS 缺陷的原因可以很容易地看到并消除。 “ZEUS”是工作場所的清潔檢查燈，旨在實(shí)現(xiàn) 0% 的缺陷率。

日本morita無線電切斷手持式屏蔽箱測試儀 WM1019-04178H 該款屏蔽箱為手入式屏蔽箱，具有80dB的良好屏蔽特性，即使將諸如手機(jī)、智能手機(jī)和平板的無線通信設(shè)備置于強(qiáng)電場的環(huán)境中，也可使設(shè)備達(dá)到【無信號(hào)】的狀態(tài)。適合被應(yīng)用在移動(dòng)設(shè)備取證和智能手機(jī)取證等用途上。因內(nèi)部可安裝夾具和天線等部件，所以也可完成OTA測試試驗(yàn)。

日本morita移動(dòng)設(shè)備測試屏蔽箱無線模塊測量 WM-1019-0453H 手入式屏蔽箱可容納移動(dòng)通信終端和具有通信功能的游戲機(jī)等設(shè)備，并空手即可對他們進(jìn)行測試，屏蔽箱內(nèi)部也可以安裝希望的夾具。因?yàn)榘惭b有透明的目視用窗口，可以在查看內(nèi)部機(jī)械的同時(shí)進(jìn)行相關(guān)操作。

日本mitaka非接觸式微透鏡陣列三坐標(biāo)測量機(jī) MA系列 配備了NH系列的所有基本形狀測量功能，可以測量透鏡和模具的橫截面形狀，并使用專用軟件一次性測量曲率和中心坐標(biāo)。

日本mitaka非接觸三維輪廓高精度測量裝置 MLP系列 MLP-3 專門從事傳統(tǒng)坐標(biāo)測量機(jī)、投影儀和激光顯微鏡無法實(shí)現(xiàn)的復(fù)雜測量。點(diǎn)自動(dòng)對焦探頭和每個(gè)軸的控制（包括旋轉(zhuǎn)）解決了困擾測量人員的問題。

日本mitaka非接觸三維測量裝置高精度耐磨損 NH系列 NH系列實(shí)現(xiàn)了高精度和易用性， 解決了過去的測量問題。 ?可在不損壞測量對象的情況下進(jìn)行測量 ?擅長測量陡峭的斜坡和大的凹凸不平 ?直接測量鏡面和透鏡等透明物體

日本mitaka非接觸式表面粗糙度快速測量裝置 PF系列 通過使用可實(shí)現(xiàn)指數(shù)測量速度提高 50 倍的掃描 AF 功能和高精度自動(dòng) XY 工作臺(tái)，我們實(shí)現(xiàn)了數(shù)十毫米大范圍內(nèi)的高速測量，測量精度達(dá)到亞微米級(jí)。 非常適合測量無法使用截面曲線檢測到的精密加工零件的翹曲、成型產(chǎn)品的缺陷形狀以及摩擦學(xué)中磨損和劃痕的定量評估。

日本kgs鋼鐵測量儀電磁感應(yīng)探頭高精度檢測 EM-01A 這是一款電磁感應(yīng)鋼筋探頭，可用于多種場合，例如檢查橋梁上部鋼筋、檢查建筑物覆蓋層厚度、確定抽芯和錨固位置、地震診斷等。施工管理。 此外，甚至可以使用業(yè)界最小的小型標(biāo)準(zhǔn)探頭在靠近墻壁或狹窄的空間內(nèi)進(jìn)行鐵測量。